X射线荧光光谱法(XRF)分析

　　中析研究所可进行土壤、岩石、金属材料等各种样品的分析测试服务，亦可根据客户需求设计方案，为客户提供非标检测服务。检测周期：常规到样后7-15个工作日出具X射线荧光光谱法(XRF)分析报告

　　检测费用：样品初检后结合客户检测需求以及实验复杂程度进行报价

　　样品量大小：具体样品量需要根据客户的检测项目来决定，详情您可以咨询工程师

X射线荧光光谱法(XRF)分析概述

　　X射线荧光光谱法(XRF)是一种非破坏性的测试方法，通过检测物质中元素的荧光信号来分析样品的化学成分。这种测试方法适用于各种材料的表面分析和固体、粉末、液体等样品的成分分析。

X射线荧光光谱法(XRF)分析项目

　金属材料分析

　　通过XRF测试，可以快速准确地分析金属材料中各种元素的含量。这种测试在金属生产、贸易和处理领域中得到广泛应用，可以帮助工程师了解金属的化学成分，以确定材料的质量和适用性。

　土壤、岩石和矿物分析

　　对于土壤和岩石样品，可以通过测试确定其中的各种矿物成分，从而了解该地区的地质特征。对于矿物样品，可以测出其中所含有的各种金属元素的含量，以便于矿物开采和利用。

　塑料和其他非金属材料分析

　　除了金属、岩石和矿物之外，XRF测试还可以用于塑料、橡胶、陶瓷、玻璃等非金属材料的成分分析。通过测试可以了解这些材料中所含有的各种元素的含量，以便于生产过程中的控制和优化。

X射线荧光光谱法(XRF)分析标准

　　CGSB 3.0 NO.16.0-2004-CAN/CGSB-2004 石油和相关产品试验方法 能量发散X射线荧光光谱法测定柴油和类似中间馏分油中的硫磺

　　DB44/T 1091-2012 建材产品中废渣掺加量的测定 X射线荧光光谱法

　　DIN EN 13723-2002 石油产品.低铅含量的汽油测定.波长弥散X射线荧光光谱法(XRF)

　　GB/T 29513-2013 含铁尘泥 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法

　　GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

　　GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴

　　GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定硅片表面元素污染

　　HJ 829-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法

　　HJ 830-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法

　　ISO 14706-2014 表面化学分析.用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物

　　ISO 17054-2010 用邻近技术通过X射线荧光光谱法分析高合金钢的常规方法

　　NB/SH/T 0842-2017 轻质液体燃料中硫含量的测定 单波长色散X射线荧光光谱法

　　NB/SH/T 0950-2017 催化裂化催化剂中氧化镧和氧化铈含量的测定 X射线荧光光谱法

　　NB/SH/T 0993-2019 汽油及相关产品中硅含量的测定单波长色散 X 射线荧光光谱法

　　NB/SH/T 6043-2021 汽油中铅、铁、锰含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法

　　NB/T 10470-2020 固体生物质燃料砷、磷、氯测定方法 X射线荧光光谱法

　　PNS ISO 14706-2002 表面化学分析 用全反射X射线荧光光谱法测定硅片表面主要污物

　　T/LNWTA 003-2019 供水管材中无机物元素快速检测方法 能量色散X射线荧光光谱法

　　VDI 2267-12-2008 环境空气悬浮物质的测定 As、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mn、Ni、Pb、Sb和Zn的能量色散X射线荧光光谱法

　　YB/T 4143-2019 火花源原子发射光谱法测定固体金属均匀性检验方法

检测流程

　　1、在线咨询或者来电沟通

　　2、由专人负责发送对应的实验室地址，邮递检测样品到本所实验室或上门采样。

　　3、为您对接工程师,由工程师评估后报价，便捷实惠。

　　4、签署委托书，支付检测所需费用，深入开展实验。

　　5、约定时间完成检测，出具检测报告。

　　6、邮寄检测报告，专属1V1售后服务。

我们的承诺

　　北京中科光析科学技术研究所承诺：我们将根据不同产品类型的特点，并结合不同行业和国家的法规标准，选择适当的检测项目和方法进行分析测试，或根据您的要求进行试验分析。为了不断改进我们的工作，我们致力于提高产品质控分析、使用性能检测能力，并持续加强我们团队的科研技术。同时，我们将积极跟进新的技术和标准，以最大程度地满足您的需求和市场要求。