SMT测试__超声波扫描(C-SAM)分析,北京中科光析科学技术研究所,可为您提供各种超声波扫描(C-SAM)分析服务。中析研究所实验室可针对电子产品或元器件进行检测分析。提供从原物料到PCBA的全方位SMT检测服务,展示检验产品的制程质量,为客户提供真实可靠之数据,帮助解决SMT制程中出现的各种问题提供科学的失效分析解决方案。
. 原物料进料检测,从源头剔除不良。
. 验证制程参数,帮助产线提升良率。
. 检验成品质量。
C-SAM是利用超声波脉冲探测样品内部空隙等缺陷的仪器,主要用于观察组件内部的芯片粘接失效、分层、裂纹、夹杂物、空洞等。是一项非破坏性的检测组件的完整性,内部结构和材料的内部情况的测试,作为无损检测分析中的一种,它可以实现在不破坏物料电气能和保持结构完整性的前提下对物料进行检测。被广泛的应用在物料检测(IQC)、失效分析(FA)、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。
1、寄样
2、免费初检
3、报价
4、双方确定,签订保密协议,开始实验
5、完成实验:检测周期会根据样品及其检测项目/方法会有所变动,可咨询工程师
6、出具检测报告,后期服务。
检测周期:7-15个工作日出具超声波扫描(C-SAM)分析报告。
检测费用:免费初检,根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。
以上是关于超声波扫描(C-SAM)分析的相关介绍,如有其他检测需求可以咨询实验室工程师帮您解答(试验/检测周期、方法和步骤以工程师为准)。
北京中科光析科学技术研究所承诺:我们将根据不同产品类型的特点,并结合不同行业和国家的法规标准,选择适当的检测项目和方法进行分析测试,或根据您的要求进行试验分析。为了不断改进我们的工作,我们致力于提高产品质控分析、使用性能检测能力,并持续加强我们团队的科研技术。同时,我们将积极跟进新的技术和标准,以最大程度地满足您的需求和市场要求。
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