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半导体材料检测，北京中科光析科学技术研究所，可为您提供宽带隙半导体、低维半导体等各种半导体材料检测服务。我所是正规的科研检测机构，始终以科学研究为首任，竭诚为广大客户提供科学的检验检测、研发分析服务。
检测周期：7-15个工作日出具半导体材料检测报告。
检测费用：免费初检，根据客户检测需以及实验复杂程度进行报价。
元素半导体、无机化合物半导体、有机化合物半导体和非晶态与液态半导体等。
禁带宽度、电阻率、载流子迁移率、非平衡载流子寿命、位错密度等;
DIN 50431-1988 无机半导体材料的检验; 用直线配置的四探针直流法测定硅和锗单晶体的比电阻
DIN 50433-1-1976 无机半导体材料的检验; 用X 射线测向仪测定单晶体取向
DIN 50433-2-1976 无机半导体材料的检验; 用反射光影法测定单晶体取向
DIN 50433-3-1982 半导体材料的检验; 用劳埃反射法测定单晶体取向
DIN 50434-1986 半导体材料的检验; 单晶硅试样的(111) 和(100) 蚀面上晶体结构缺陷的测定
DIN 50435-1988 无机半导体材料的检验; 四探针直流法测定硅或锗片的比电阻径向变化
DIN 50437-1979 无机半导体材料的检验; 用红外线干涉法测量硅外延生长层的的厚度
DIN 50438-1-1995 无机半导体材料的检验;用红外吸收法测定硅中杂质含量:第1部分:氧
DIN 50439-1982 半导体工艺材料的检验; 用电容--电压法和水银接点确定晶朊半导体材料中掺杂物的断面
GB/T 14264-2009 半导体材料术语
DIN 50440-1998 半导体材料检验.用光导衰减法测定硅单晶复合载流子寿命;在杆上试件上测量
1.用作销售报告：出具正规第三方检测报告让客户更加信赖自己的产品质量，让自己的产品更具有说服力;
2.研发使用：拥有优秀的检测工程师和先进的测试设备，可降低了研发成本，节约时间;
3.司法服务：协助相关部门检测产品，进行科研实验，为相关部门提供科学、公正、准确的检测数据;
4.大学论文：科研数据使用;
5.投标：检测周期短，同时所花费的费用较低，准确性较高;
6.工业问题诊断：较短时间内检测出产品问题点，以达到尽快止损的目的。
1、寄样
2、免费初检
3、报价
4、双方确定，签订保密协议，开始实验
5、完成实验：检测周期会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，可咨询工程师
6、出具检测报告，后期服务。
北京中科光析科学技术研究所承诺：我们将根据不同产品类型的特点，并结合不同行业和国家的法规标准，选择适当的检测项目和方法进行分析测试，或根据您的要求进行试验分析。为了不断改进我们的工作，我们致力于提高产品质控分析、使用性能检测能力，并持续加强我们团队的科研技术。同时，我们将积极跟进新的技术和标准，以最大程度地满足您的需求和市场要求。
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2021-08-05 17:31:35
半导体材料检测 
